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Metrologie optique (OEG et SILO), nanopositionnement (NPOINT) et produits de microscopie (ASI IMAGING, LDGI): samuel.choblet@optophase.com

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Interféromètre Mesure de focale Autocollimateur

Banc de FTM Sphéromètre Analyseur de front d'onde

Station de centrage Déflectomètre Nanopositionnement

Métrologie des lasers Mesure d'épaisseur Optique de précision

Graveur diamant Mesure d'angle de contact Station de nettoyage optique

Caméra thermographique Microscopes techniques Ellipsomètre

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