Métrologie optique

Micro & Nanopositionnement

Produits de microscopie

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Liste de nos produits

Nanopositionnement

Pour toute demande relative à nos platines de positionnement, merci de prendre dorénavant contact avec la société PIEZOCONCEPT:

PIEZOCONCEPT Piezostage

for microscope objective

PIEZOCONCEPT

XY/XYZ piezostage

 

 

Micropositionnement

Platines Feinmess

Platines Mechonics

 

Dispositif d'alignement par laser

Dispositif d'alignement par laser

 

Produits de microscopie

Platine automatisée MS-2000 XYZ
Platine automatisée MS-4000 XYZ
Contrôleur MS-2000
Platine linéaire LS-50
Microscopes techniques
CRIFF: Continuous Reflective Interface Feedback Focus system
PZ-2000 automated stages with piezo Z-axis top plate
RAMM: Rapid Automated Modular Microscope
Thermo plate : Clear Glass Heating Stage
Tables optiques

 

CHROMA Interferential Filter
Fast flasks scanning

 

Metrologie optique

Banc de mesure de focale, rayon de courbure
Banc de mesure de FTM
Autocollimateur, téléscope, lunette d'alignement
Interféromètre de fizeau instantané
Déflectomètre plan

Mesure d'épaisseur
Goniomètre
Sphéromètre
Ellipsomètre
Interféromètre Infrarouge

 

Metrologie des lasers

Alignement de faisceau laser
Analyseur de faisceau laser
Puissance mètre

 

Science des matériaux

Banc de mesure de tension de surface
Diamond scriber : Appareil permettant la découpe de wafers
Ellipsomètre

 

Optiques de précision

Hublots, lentilles, microlentilles, miroirs plans et paraboliques, séparatrices, filtres notch, prismes, cristaux non linéaires, polariseurs

 

Caméra thermographique

Caméra thermographique

 

Lasers et sources

Lasers

Lasers (Femtosecond)

Sources lumineuses

Lasers (Picosecond)

 

Détecteurs

Rayons X et détecteurs gamma

Système de traitement du signal de capteur PSD

(On-trak)

Analyseur et spectromètre de luminescence

 

 

 

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