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Profilomètre pour surfaces planes : FLATSCAN

 

OEG FLATSCAN est un profilomètre optique permettant de caractériser de grandes surfaces planes. Il permet de réaliser des mesures de planéité et de courbure pour tout type de surfaces réfléchissantes telles que des gaufrettes (ou wafer) en Silicium, des miroirs, des miroirs pour rayons X, des surfaces métalliques et des surfaces polymères polies. Suivant les systèmes proposées, une mesure soit en 2D soit en 3D est possible.

Un large champ de mesure

Les dimensions maximales de l’objet pouvant être caractérisé sont de 250X250mm² (en standard) et peuvent être augmentées sans pour autant diminuer la précision de la mesure.

Une précision élevée

La précision de l’équipement standard est de 100nm. Sur demande, nous pouvons l’améliorer à 10nm voir jusqu'à 1nm ! (Cf. brochure ci-dessous)

Une grande distance de travail possible

Le profilomètre FLATSCAN peut être utilisé avec une grande distance de travail et possède une gamme de mesure en hauteur de flèche allant de 70 à 700µm (cette valeur dépend du champ de mesure).

L'intérêt par rapport à l'interférométrie est que l'on a accès en tout point à l'angle de la surface par rapport à l'axe optique de référence. De plus, des échantillons ayant des rayons de courbure d'une dizaine de mètres peuvent être analysés avec cette méthode (ce n'est pas le cas en interféromètrie car le nombre de franges est trop élevé).

Documentation en ligne :

Télécharger la brochure FlatScan

Déflectomètre très hautes performances

Lien vers le site web de la société OEG

Si vous souhaitez avoir de plus amples renseignements, n’hésitez pas à nous contacter.

 

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